優格黎精密工業

瑞士TESA 三次元量測儀
系統解析度: 0.001 mm
量測精度: ≤ 3 µm
量測行程 X/Y/Z: 500/400/400 mm

瑞士TESA 2D 高度規
系統解析度: 0.001 mm
量測精度: ≤ 2.5+4L µm
量測行程 Z: 415 mm 

日本Mitutoyo 粗糙度測試儀 
系統解析度: 0.001 mm
檢測部量測範圍(探針): -200 µm~+150 µm

TESA & Mitutoyo 基本量測工具
高度規、游標卡尺、外徑分厘卡、缸徑規、三點式分厘卡等
解析度: 0.01 mm(卡尺、缸徑規) & 0.001 mm(高度規、分厘卡)

台灣CARMAR 光學影像量測儀
系統解析度: 0.001mm
量測精度: ≤ 3+L/75 μm 
量測行程 X/Y/Z: 250/150/200 mm